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波前分析仪

SID4 波前传感器/波前分析仪SID4-HR 波前传感器/波前分析仪SID4-V真空兼容波前分析仪SID4-UHR大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪SID4-SWIR 短波近红外波前传感器SID4-DWIR 波前传感器/波前分析仪SID4-UV 紫外波前传感器/波前分析仪SID4-SWIR-HR 高分辨率短波红外波前传感器R-Cube光源模块高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器高分辨率相位成像相机高灵敏度等离子体分析仪超低读出噪声高速波前传感器 显示全部
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高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

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高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

所属类别:激光量测设备 » 波前分析仪

所属品牌:法国Phasics公司

产品负责人:

姓名:陈工(Jack)

电话:186 2116 1680(微信同号)

邮箱:changying-chen@auniontech.com


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高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器


400X300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器!


关键词:波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF


法国Phasics公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!PHASICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。


法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐合适的SID4波前传感器、可变形镜空间光调制器自适应光学系统操作软件等。


图1 波前校正前与校正后对比

 


PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。

 


第一部 产品介绍


SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器

PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nmSID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。


特点:

分辨率(250x250

通光孔径大(8.0mmx8.0mm)

覆盖紫外光谱

灵敏度高(0.5um)

优化信噪比


图2 SID4-UV波前分析仪

 


SID4 波前传感器


可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布,波前像差,激光的M2,泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。


特点:

波长范围:400-1100nm

分辨率高(160x120)

消色差

测量稳定性高

对震动不敏感

结构紧凑,体积小

可用笔记本电脑控制


图3 SID4位相检测

 


SID4-HR 波前相差仪


可用于检测各种透镜,光学系统的检测,可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像:传函仪、干涉仪,具有操作简便,测量精度高,参数输出方便等优点,正在被越来越多的客户推崇。


特点:

波长范围:400-1100nm

高性能的相机,信噪比高

实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)

曝光时间极短,保证动态物体测量

操作简单


图4 SID4-HR


图5 SID4-HR传递函数检测



SID4 NIR 波前分析仪


主要针对1550 nm1.5um-1.6um)激光的检测,具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSFMTF和焦距及表面质量的理想工具。


特点:

高分辨率(160x120)

快速测量

性价比高

测量

对振动不敏感


图6 SID4 NIR激光波前检测

 


SID4 DWIR 波前仪


具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um8-14um的波前位相,强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。


特点:

光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。

光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等

高分辨率(96x72)

可实现测量

可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜

快速测量 对振动不敏感

可实现离轴测量

性价比高


7SID4 DWIR



SID4产品型号参数汇总


型号

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

孔径尺寸(mm2

3.6 x4.8

8.9 x11.8

8.0 x8.0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

空间分辨率(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

测量点数

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80X64

波长范围

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6µm

3-5µm  8-14µm

0.9- 1.7µm

精准度

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

>15nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

动态范围

>100µm

>500µm

>200um

>100µm

/

~100µm

采样速度

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60fps

处理速度

>10fps